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ASI 激光剥蚀和激光诱导击穿光谱
特斯拉 2018-09-17
导语

美国应用光谱公司创造性的将激光剥蚀技术 (Laser Ablation, LA) 及激光诱导击穿光谱 (Laser Induced Breakdown Spectroscopy, LIBS)相融合, 研发了J200系列激光剥蚀进样系统及光谱分析系统。

在激光技术和光学探测技术快速发展的大潮下,LIBS技术得到了迅猛发展,与传统的光谱分析技术相比,LIBS技术可以分析元素周期表中几乎所有的元素,具有无需样品制备,样品微损甚至无损,分析过程迅速,抗污染、无辐射、成本低及安装简易等特点。现已被广泛应用于地质矿物,土壤,植物,合金,新能源材料 (例如锂电池材料),刑侦证据等样品的剥蚀进样及化学成分分析。

美国应用光谱公司创造性的将激光剥蚀技术 (Laser Ablation, LA) 及激光诱导击穿光谱 (Laser Induced Breakdown Spectroscopy, LIBS)相融合, 研发了J200系列激光剥蚀进样系统及光谱分析系统。

美国应用光谱公司(Applied Spectra Inc.)专注研究激光剥蚀和光谱分析技术的高科技公司。 研发人员均为美国劳伦斯伯克利国家实验室的研究人员。 公司总裁Richard Russo 博士为美国劳伦斯伯克利国家实验室的资深科学家, 从事激光剥蚀及激光光谱元素分析技术三十多年,发表学术论文300 多篇,专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。

激光源可选:

ND: YAG 激光:1064nm (50 to 100 mJ);266 nm (25 to 50 mJ) ;213 nm (4 mJ)

定制激光源:二极管泵浦激光器

检测器选择:

1.切尔尼-特纳扫描光学系统的ICCD探测器 (HP 型)

2.多通道 CCD 探测器 (普通型 & 增强型)

3.中阶梯光栅摄谱系统的ICCD探测器

做为独立的LIBS仪器系统, J200 可同时配备任意两种检测器,连同稳定的多功能性和双创新检测功能,J200 复合 LA-LIBS 系统作为革命性的化学分析产品超越了其他产品。

样品高度自动调整功能

J200采用ASI专利技术:激光和样品高度自动调整传感器相结合,解决了因样品表面凹凸不平、剥蚀不均导致的元素含量检测值误差大的问题。

稳定激光能量的光闸设置

激光能量稳定阀:确保到达样品表面的激光能量均匀,使所有采样点的激光烧蚀均匀一致。

高分辨双CMOS相机系统

可用于宽视野观测样品表面特征。  

Flex 样品室

可优化气流和颗粒清洁能力,满足不同测量要求。先进的微集气管设计,可减少排气,防止剥蚀颗粒集结,消除记忆影响。

Axiom LA 软件系统

软件可控制硬件组件及ICP-MS 同步操作,轻松实现繁杂的激光采样与分析模式。

强大的数据分析工具,用于繁杂的LIBS和LA-ICP-MS 串联光谱分析。

灵活的分析方法,全分析,夹杂物分析,斑点分析,深度分析和元素映像。

另外,LA-LIBS亦能与ICP-MS联用,J200配置有高适连接口,可直接与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的直接联用,实现固体直接进样,将剥蚀出的纳米级固体样品微粒送入ICP-MS进行更精确的分析,有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入,大大提升了元素检测限和检测范围,可实现几乎整个元素周期表元素ppb以下到100%的宽范围测量。

目前该技术已广泛用于国际和国家级高端实验室,如美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构,在国内地质地理、生态环境等领域也已有广泛应用。

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作者 特斯拉

副研究员

中科院

活跃作者
  • 爱因斯坦 科研工作者 北京航空航天大学 博士
  • 梅西 本科生 北京工业大学 本科
  • 金陵 本科生 北京大学 本科


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